1、试验气压
GJB 150不适用于飞行高度超过30 000m的航天器、飞机或导dan上的装备，而GJB 360中给出了4 572~200 000m不同高度下对应的低气压值，GJB 548也给出了4 572~200 000m不同高度下对应的低气压值。
对比GJB 360与GJB 548的低气压-高度表，GJB 548共列出了A、B、C、D、E、F、G7个不同条件下的高度气压值，并且所给出的试验条件有一定的规律性，随着飞行高度由低到高，气压值由大变小；
GJB 360给出了A、B、C、D、E、F、G、H、I、J 10个不同条件下的高度气压值，并且所列的高度-气压表中的试验条件由A到试验条件E有一定的规律性，随着飞行高度由低到高，气压值由大变小，而由试验条件F到试验条件J没有呈现规律性。
与GJB 548所列的试验条件对比，GJB 360 试验条件增加了条件H到试验条件J，对应的气压高度条件分别为：H：3 000m 70kPa；J：18 000m，7.6kPa；K：25 000m, 2.5 kPa 。
2、试验时间
GJB 360B-2009规定：若无其他规定，试验样品在低气压条件下的试验时间，可从下列数值中选取：5min、30min、1h、2h、4h和16h。
3、升降压速率
通常不大于10kPa/min。
1. GJB 150.2A-2009 《jun用装备实验室环境试验方法 第二部分 低气压（高度）试验》
2. GJB 360B-2009《电子及电气元件试验方法 方法105低气压试验》（等效美jun标MIL-STD-202F ）
3. GJB 548B-2005《微电子器件试验方法和程序 方法1001 低气压（高空作业）》（等效美jun标MIL-STD-883D)
4. GB/T 2421-2008《电工电子产品基本环境试验 总则》
5. GB/T 2423.21-2008《电工电子产品基本环境试验规程 试验M低气压试验方法》
6. GB/T 2423.25-2008《电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AM 低温/低气压综合试验方法》
7. GB/T 2423.26-2008《电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/BM 高温/低气压综合试验方法》
8. GB/T 2423.27-2005《电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AMD 高温/低气压综合试验访求》
9. GB/T 2424.15-2008《电工电子产品基本环境试验规程》
10. MIL-STD-810F 《环境工程考虑与实验室试验 低气压（高度）试验》
11. 温度、压力、高度关系GB1920
12. IEC 60068-2-41（1976）《基本环境试验规程 第二部分 试验 试验Z/BM 高温/低气压试验》