宏展科技研发中心在研发设计高温试验箱时按照相关的标准进行设计与研发，为新型材料的测试实验提供信赖的仪器设备，为客户提供便捷的环境试验箱，出货前技术部门都会进行测试，达到合格的设备才会送到客户手中！接下来给大家分享我们高低温试验箱的测试流程。
1、在样品断电的状态下，先将温度下降到-50°C，保持4个小时；请勿在样品通电的状态下进行低温测试，非常重要，因为通电状态下，芯片本身就会产生+20°C以上温度，所以，在通电状态下，通常比较容易通过低温测试，必须先将其“冻透”，再次通电进行测试。
2、开机，对样品进行性能测试，对比性能与常温相比是否正常。
3、进行老化测试，观察是否有数据对比错误。
4、升温到+90°C，保持4个小时，与低温测试相反，升温过程不断电，保持芯片内部的温度一直处于高温状态，4个小时后，执行2、3、4测试步骤。
5、高温和低温测试分别重复10次。
如果测试过程出现任何不能正常工作的状态，则视为测试失败。
